hideyuki — 付けたレビュー

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327.5kHzの設定は、検出結果2（LEDON）から検出結果1（LEDoff）を減算したカウントが×4倍に増加するため、PSにおいて、長い距離でしきい値を調整するのに役立ちます。この場合、平均消費電流も×4倍に増加します。したがって、あなたのシステムと条件を評価することで、あなたの設定を考慮する必要があります。
LED駆動の下におけるデューティ比と平均消費電流は下の方に表示されます。

5.7。近接低しきい値（Loff）：PL[15:0]（アドレス08H、09H）
PSモードで、PL[15:0]レジスタセットを、近接低しきい値に設定します。
実際の使用では、光の取り込み状態を確認しながらそれを設定してください。

修正後
327.5kHzの設定は、検出結果2（LEDON）から検出結果1（LEDoff）を減算したカウントが×4倍に増加するため、PSにおいて、長い距離でしきい値を調整するのに役立ちます。この場合、平均消費電流も×4倍に増加します。したがって、あなたのシステムと条件を評価することで、あなたの設定を考慮する必要があります。
LED駆動の下におけるデューティ比と平均消費電流は下の方に表示されます。

5.7。近接低しきい値（Loff）：PL[15:0]（アドレス08H、09H）
PSモードで、PL[15:0]レジスタセットに、近接低しきい値を設定します。
実際の使用では、光学的実装条件を確認して設定してください。

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5.8. 近接高しきい値（LON）：PH[15:0]（アドレス0AH、0BH）
PSモードでPH[15:0] レジスタを近接高しきい値に設定します。
実際の使用では、光の取込み状態で確認しながらそれを設定してください。

5.9.PS検出結果：D2[15:0]（アドレス10H、11H）
[PSモード]
近接感知の検出結果3は、D2[15:0]レジスタ（アドレス10H、11H）へ出力されます。
検出結果1と結果2は、レジスタには出力されません。
検出結果3は以下のように定義されます。
検出結果3=検出結果2（LEDon） - 検出結果1（LEDoff）
この場合、二回分の測定時間がPSモードに必要とされます。

修正後
5.8. 近接高しきい値（LON）：PH[15:0]（アドレス0AH、0BH）
PSモードでPH[15:0] レジスタを近接高しきい値に設定します。
実際の使用では、光学的実装条件を確認して設定してください。

5.9.PS検出結果：D2[15:0]（アドレス10H、11H）
[PSモード]
近接感知の検出結果3は、D2[15:0]レジスタ（アドレス10H、11H）へ出力されます。
検出結果1と結果2は、レジスタには出力されません。
検出結果3は以下のように定義されます。
検出結果3=検出結果2（LEDon） - 検出結果1（LEDoff）
この場合、二回分の測定時間がPSモードに必要とされます。

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パネルがない場合、これらのファクタは下の方に示されます。これらのファクタは、使用中のパネルの状況応じて、調整が必要になる場合があります。

7.　INT端子出力モード
7.1.　近接検出/非検出の検知結果出力モード
PIN[1:0] レジスタ(アドレス 03H)を設定する事により、INT端子が検知結果出力モードで動作します。
11：検出/非検出の検知結果出力モード。オブジェクトが検出されたか否かの検知結果は、I2Cバスインタフェースおよび負論理によるINT端子からの出力を介して読み出されます。

7.2. 出力モードを中断
PIN[1:0]レジスタ（アドレス03H）を設定することにより、出力中断モードとして動作します。
00,01,10: 出力モードを中断

修正後
パネルがない場合、これらの係数は以下のようになります。使用にあたっては、これらの係数を変更する場合があります。

7.　INT端子出力モード
7.1.　近接検出/非検出の検知結果出力モード
INT端子はPIN[1:0] レジスタ(アドレス 03H)を検知/非検知判定結果出力モードに設定する事により、判定結果出力モードで動作します。
物体の検知/非検知状態を判定した結果は、I2Cバスインタフェースから読出し可能であるとともに、ネガティブロジックでINT端末からも負論理で出力されます。

7.2. 割込み出力モード
PIN[1:0]レジスタ（アドレス03H）を割込み出力設定することにより、割込み出力モードとして動作します。

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6.3。 ALSモードの最大測定可能範囲：RANGE_A[2:0]（アドレス01h）
RANGE_A[2:0]レジスタ（アドレス01h）を設定することにより、ALSモード用の最大測定可能範囲を選択します。
ALSモードで設定した範囲を検出してください。最大測定範囲を超えた光が入射した場合は、最大カウント値が出力されます。
これについては、最大測定範囲に大きなカウント値を設定することで、外からの光について対策を取ることは可能です。ただし、実際の使用条件を考慮し、システムを査定しながら設定する必要があります。

6.4. ALSによる低しきい値の中断：TL[15:0]（アドレス04H、05H）
セットは、 ALSモードで TL[15:0]レジスタが 低いしきい値になると中断します。
実際の使用では、光の取り込み状態を確認しながら設定してください。

修正後
6.3. ALSモードの最大検知範囲：RANGE_A[2:0]（アドレス01h）
RANGE_A[2:0]レジスタ（アドレス01h）を設定することにより、ALSモード用の最大検知範囲を選択します。
ALSモードで設定した範囲で検出します。最大測定範囲を超えた光が入射した場合は、最大カウント値が出力されます。
最大検知範囲に最大カウント値を設定することにより、外からの光を除去できます。ただし、実際の使用条件を考慮し、お使いのシステムに合わせて設定する必要があります。

6.4. ALSの低割込みしきい値：TL[15:0]（アドレス04H、05H）
TL[15:0] レジスターにALSモードの低割込み低閾値を設定します。
実際に使用する際には、光学的に実装条件を確認して設定してください。

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6. ALS用のレジスタ設定
6.1. ALS中断結果の出力値：FLAG_A（アドレス00h）
FLAG_Aレジスタは、ALSモード用の出力中断結果です。
d FLAG_Aレジスタに0を書き込むことで消去される機能があります。
FLAG_Aレジスタ（アドレス00H）：0：非中断、1：中断

6.2。ALSモード用の解像度/ 時間設定測定：RES_A[2:0]（アドレス01H）
RES_A[2:0]レジスタを設定することにより、ALSモード用の解像度測定と時間測定を選択してください（アドレス01H）。
解像度が低い場合、測定公差が大きくなります。お使いのシステムで調整してください。

修正後
6. ALS用のレジスタ設定
6.1. ALS割込み結果の出力値：FLAG_A（アドレス00h）
FLAG_Aレジスタは、ALSモード用の出力割込み結果です。
d FLAG_Aレジスタに0を書き込むことで消去される機能があります。
FLAG_Aレジスタ（アドレス00H）：0：割込みなし、1：割込みあり

6.2. ALSモード用の分解能/ 積分時間設定：RES_A[2:0]（アドレス01H）
RES_A[2:0]レジスタを設定することにより、ALSモード用の測定分解能と積分時間を選択してください（アドレス01H）。
分解能が低い場合、測定誤差が大きくなるので、お使いのシステムで調整してください。

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6.5. ALSによる高しきい値の中断：TH[15:0]（アドレス06H、07H）
セットは、 ALSモードでTH[15:0]が 高しきい値になると中断します。
実際の使用では、光の取り込み状態を確認しながら設定してください。

6.6. ALSの検出結果：D0[15:0]、D1[15:0]（アドレス0CH、0DH、0EH、0FH）
クリアフォトダイオードの検出結果は、D0[15:0] レジスタ（アドレス0CH、0DH）に出力されます。赤外線フォトダイオードの検出結果は、D1[15:0]レジスタ（アドレス0EH、0FH）に出力されます。赤外光なしの結果は、 D0[15:0] と D1[15:0]を用いた計算により得られます。赤外光のない結果=α* D0[15:0] - β* D1[15:0] で求められます。
α、βのファクタは、D1[15:0]/ D0[15:0]の比によって決定されます。

修正後
6.5. ALS高割込み閾値：TH[15:0]（アドレス06H、07H）
ALSモードにおいてTL[15:0] レジスターに高割込み閾値をセットします。
実際の使用では、光の取り込み状態を確認しながら設定してください。

6.6. ALSの検出結果：D0[15:0]、D1[15:0]（アドレス0CH、0DH、0EH、0FH）
クリアフォトダイオードの検出結果は、D0[15:0] レジスタ（アドレス0CH、0DH）に出力されます。赤外線フォトダイオードの検出結果は、D1[15:0]レジスタ（アドレス0EH、0FH）に出力されます。赤外光なしの結果は、 D0[15:0] と D1[15:0]を用いた計算により得られます。赤外光のない結果=α* D0[15:0] - β* D1[15:0] で求められます。
α、βのファクタは、D1[15:0]/ D0[15:0]の比によって決定されます。

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5.4. PSモードの最大測定可能範囲：RANGE_P[2:0]（アドレス02H）
RANGE_P[2:0]レジスタ（アドレス02H）を設定することにより、PSモードの最大測定可能範囲を選択します。
PSモードでの設定範囲を検出します。入射光が最大測定範囲を超える場合、最大カウント値が出力されます。
これについては、最大測定範囲において大きなカウント値を設定することにより、外光対策を有することが可能です 。
外光が最大検出範囲を超える場合は、検出結果1（LEDoff）と検出結果2（LEDON）両方が最大カウント値となり、減算結果（検出結果2 - 結果1）が0となるため、「非検出」が出力されます。

修正後
5.4. PSモードの最大測定可能範囲：RANGE_P[2:0]（アドレス02H）
RANGE_P[2:0]レジスタ（アドレス02H）を設定することにより、PSモードの最大測定可能範囲を選択します。
PSモードでの設定範囲で検出します。入射光が最大測定範囲を超える場合、最大カウント値が出力されます。
最大測定範囲を大きなカウント値に設定することにより、外乱光に対する対策が可能です 。
外乱光が最大検出範囲を超えた場合は、検出結果1（LEDoff）と検出結果2（LEDON）両方が最大カウント値となり、減算結果（検出結果2 - 結果1）が0となるため、「非検出」が出力されます。

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New exhibition hall, kaohsiung Exhibition Center: KEC was opened on 14th Ａpril.

There were held grand-opneing and the opening ceremony of Taiwan International Fastenster Show, the first exhibition of KEC at an open space in front of the main entrance on this day.
At opening ceremony, many affilites including Wu Den-yin, the ex-city mayor attended and Chen Chu delivered congratulatory addresses.
There are 120 medias and 600 participants on the ceremony.

修正後
New exhibition hall, kaohsiung Exhibition Center: KEC was opened on 14th Ａpril.

There were held grand-opneing and the opening ceremony of Taiwan International Fastenster Show, the first exhibition of KEC at an open space in front of the main entrance on this day.
At opening ceremony, many affilites including Wu Den-yin, the ex-city mayor attended and Chen Chu delivered congratulatory addresses.
There are 120 medias and 600 participants on the ceremony.

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比重
表面抵抗率
体積抵抗率
絶縁耐力
誘電特性
誘電率
90度剥離試験
*未処理アルミニウム基板
65℃、宿る
保持の静的せん断試験
熱老化と環境

修正後
比重
表面抵抗率
体積抵抗率
絶縁耐力
誘電特性
誘電率
90度剥離試験
*未処理アルミニウム基板
65℃で保持
保持の静的せん断試験
熱老化と環境

元の翻訳
Specific Gravity
比重

Surface Resistivity
表面抵抗率

Volume Resistivity
体積抵抗率

Dielectric Strength
誘電強度

Dielectric Properties
誘電特性

Dielectric Constant
誘電率

90 Degree Peel Test
90度剥離試験

*Untreated aluminum substrate
*未処理のアルミニウム基板

65°C Dwell
65°C滯在

Static Shear test of holding
スタティックせん断試験装

Heat Aging and Environmental
熱老化や環境

修正後
Specific Gravity
比重

Surface Resistivity
表面抵抗率

Volume Resistivity
体積抵抗率

Dielectric Strength
誘電強度

Dielectric Properties
誘電特性

Dielectric Constant
誘電率

90 Degree Peel Test
90度剥離試験

*Untreated aluminum substrate
*未処理のアルミニウム基板

65°C Dwell
65°Cで保持

Static Shear test of holding
スタティックせん断試験装

Heat Aging and Environmental
熱老化や環境

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I'm sorry to send a mail that confuse you. Please ship products on an attached file. Don't charge for an invoice of a shipment please. Because you shipped wrong products last time. These are a replacement of those. Also there are 5 products short for substitute products. So make document of a returned goods for them please. Do you have rest of shipment this week? Because next week is holiday week in Japan. Make me know definite shipping schedule please.

修正後
I'm sorry to send the mail that confuse you. Please ship products on the attached file. Don't charge the invoice for the shipment please. It is because they are replacements for the products shipped accidentally last time. The number of replacements was small by five. So make a return form for them please. Do you have rest of shipment this week? Because holidays continue next week, let me know the fixed shipping schedule please.