Translator Reviews ( English → Japanese )

English

Nano Era with corresponding circuits/architectures allow for micro-mechanical switches that enable new memory and reconfiguration technologies with the advantage of online chip adaptivity and non-volatility. Transient faults may lead to unreliable information processing as information in nano-sized devices is much less. Power consumption and related problems present a challenge where information is processed within a smaller area/volume budget. This includes the consideration of appropriate fault tolerance techniques and especially the discussion of necessary efficient and online self-repairing mechanisms for driving such kind of future silicon and non-silicon based technologies and architectures.

Japanese

ナノ時代とそれに対応する回路またはアーキテクチャは、オンラインでのチップ適応性および非不安定性という長所を生かして新しいメモリおよび再構成技術を可能とする微小機械式スイッチをもたらす。ナノサイズのデバイスに関する情報が非常に少ないため、過渡故障が信頼できない情報処理へとつながるかもしれない。電力消費および関連する問題が、より小さな地域または製造高予算のより少ない中で情報が処理される場合において難問を提起することになる。これには、適切な障害許容力についての技術に関する検討材料、そして特にそのような種類の未来のシリコンおよびノンシリコンベースの技術およびアーキテクチャを運用するために必要な高効率でオンラインでの自己修復メカニズムについての議論を含む。